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xrd的测量范围

1. XRD的测量范围是广泛的。
2. 这是因为XRD技术可以用于研究晶体结构、晶体学参数、晶体的定性和定量分析等。
它可以测量各种材料，包括无机材料、有机材料、金属材料、生物材料等。
3. 此外，XRD还可以用于研究材料的晶体**、应力分析、相变等。
因此，XRD的测量范围非常广泛，可以满足不同领域的研究需求。

做XRD如何制样？

XRD可以测量块状和粉末状的样品，对于不同的样品尺寸和样品性质有不同的要求，下面对不同样品的制备要求作简要介绍。

1）、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨成一个平面，面积不小于10X10毫米，如果面积太小可以用几块粘贴一起。

2）、对于片状、圆拄状样品会存在严重的择优取向，衍射强度异常。因此要求测试时合理选择响应的方向平面。

3）、对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。

4）、粉末样品要求在3克左右，如果太少也需5毫克。要求磨成320目的粒度，约40微米。粒度粗大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。